OER是動(dòng)力學(xué)速率緩慢的四電子多步驟過(guò)程,由于其較高的理論氧化電位導(dǎo)致了電解水過(guò)程中高 的能耗,被認(rèn)為是電解水過(guò)程的瓶頸反應(yīng),且OER過(guò)程產(chǎn)出的氧氣(O2 )經(jīng)濟(jì)價(jià)值較低,與氫氣混合可 能會(huì)導(dǎo)致爆炸,因而用具有熱力學(xué)較低氧化電位的陽(yáng)極反應(yīng)取代OER,從而使全解水槽壓更低的同時(shí) 獲得經(jīng)濟(jì)價(jià)值更高的化工產(chǎn)品的策略引起了廣泛關(guān)注。CHI760E 電化學(xué)工作站,上海辰華儀器有限公司; Bruker D8 Advance X 射線粉末衍射儀(XRD) 和AVANCE 500MHz核磁共振波譜儀(NMR),德國(guó)Bruker公司; SU8010掃描電子顯微鏡(SEM),日本 Hitachi 公司; Talos F200X 透射電子顯微鏡(TEM)。
在電流密度為?10 mA/cm2 下,該耦合系統(tǒng)在超過(guò)15 h的持續(xù)通電反應(yīng)中,過(guò)電勢(shì) 沒(méi)有產(chǎn)生明顯的變化,表明了該耦合體系具有優(yōu)異的穩(wěn)定性. 在反應(yīng)過(guò)后,陽(yáng)極側(cè)溶液由無(wú)色變?yōu)辄S 色,且CF電極表面沒(méi)有氣泡,為了確定溶液中是否存在Cu2+ ,對(duì)溶液進(jìn)行ICP-OES測(cè)試,未 檢測(cè)出Cu2+ ,證明無(wú)CuAZT的合成. 以上現(xiàn)象初步表明K2AZT的成功合成且OER未發(fā)生,即5-AT氧化 偶聯(lián)反應(yīng)成功取代了OER反應(yīng). 同時(shí),在陰極側(cè)CC@WS2 NSs表面出現(xiàn)氣泡,表明H2在陰極 側(cè)生成.